由于本人正在着手编写一份如何解决在非正态分布下，且在不违背SPC原理的情况下，发展并独创SPC统计技术手稿，以更适应生产不断变化的管理需要，更适应企业内部品质管理目标或政策的管理需要，以适应SPC过程管理成本更经济性原则。目前本人所设计的Mx-Sx管制图软件，而非Xbar-R管制图，已在本人工作之便向本公司所属供应商推广和运用,实施运用后反映良好，但其中有个设计软肋，还吃不准。
问题如下：
从目前SPC过程统计技术教材提出：SPC过程能力统计,是基于过程受控状态前提下进行的。但在教材上没有指明在什么样的指标情况下，是属于正态分布的。按过程能力统计公式看本人所推定的过程受控制状态监界点,是指:
1.测量过程处于统计受控状态。在点子未出界的情况下，本人推定其控制临界线为：上下波动5.15R/d2以内，即单侧Z≥(5.15/2),因为测量控制线的d2代表5 .15σ,99%正态分布曲线下的面积；
2.生产过程处于正态分布时，只要点子未出界的情况下，引用CPK=Zmin/3σ,或=Zmin/3(R/d2),其能力统计才有意义，反过来推定其控制临界线为:上下波动3σ，或=3R/d2，即单侧Z≥3，是否可以忽视其在UCL/LCL内这样的非正态分布情况,如:均匀分布;左右倾向分布;指数分布;双峰分布;孤岛型分布等，因为其不管怎样变异，都没有超出控制线。
以上请教，诚切希望各路高人指点迷津，这样的Z值是否可行？，谢谢先。
联系人：张小勇 邮箱：zxy_fl#126.com |
发表于 2011-11-9 12:21:17
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