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量测系统的分辨力越大越好吗?

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1#
发表于 2011-11-6 05:02:07 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
我最近在量测一些零件的时候采用了不同的量测工具:数显卡尺(分辨力0.01)和三坐标测量仪(分辨力0.0001),但是在有些大尺寸上边,却感觉三坐标用的很奇怪,比如说用卡尺测在规格内,而用三坐标却在轨格外,研究了一下,因为零件做得很糙,要求也不高,所以有些地方看起来是直的,在放大100倍之后却是弯的,甚至是波浪形的,这给三坐标取点造成了很大的困难,甚至连续测量会有很大的误差,但是用卡尺却不会有这么大的误差,难道在这里也需要用模糊理论。
所以忍不住要向各位请教一下如题的问题:量测系统的分辨力越大越好吗?
希望有同样经历的同志指教一二,不胜感激!谢谢!
2#
 楼主| 发表于 2011-11-6 05:02:13 | 只看该作者
希望有同样经历的同志指教一二,不胜感激!谢谢
3#
发表于 2011-11-6 05:02:19 | 只看该作者
你这个问题相当于质量过剩,过剩的质量是一种浪费。
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