电容器的常见失效模式有:击穿、开路、电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上下班升等)、漏液、引线腐蚀或断裂、绝缘子破裂或表面飞弧等.引起电容器失效的原因是多种多样的.各类电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同,失效机理也各不一样.
各种常见失效模式的主要产生机理归纳如下.
1、常见的七种失效模式
(1) 引起电容器击穿的主要失效机理
①
电介质材料有疵点或缺陷,或含有导电杂质或导电粒子;
②
电介质的电老化与热老化;
③
电介质内部的电化学反应;
④
银离子迁移;
⑤
电介质在电容器制造过程中受到机械损伤;
⑥
电介质分子结构改变;
⑦
在高湿度或低气压环境中极间飞弧;
⑧
在机械应力作用下电介质瞬时短路.
(2) 引起电容器开路的主要失效机理
①
引线部位发生“自愈“,使电极与引出线绝缘;
②
引出线与电极接触表面氧化,造成低电平开路;
③
引出线与电极接触不良;
④
电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂;
⑤
液体工作台电解质干涸或冻结;
⑥
机械应力作用下电介质瞬时开路.
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发表于 2012-5-14 21:32:08
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