求助芯片电子元器件试验统计方法

凌晨

各位大侠，小弟的老板最近有一批芯片出产后，跟随使用情况作了相应的抽查和试验，返回了大批的样本数据，老板要求我针对这些数据做统计分析，提取出一个预测模型，能够预测出未来一段时间内芯片电子元器件的失效情况（简单地说是一条曲线）。
小弟刚刚涉足可靠性试验不久，对这类试验的统计分析方法不是很清楚，请问这种试验属于那种试验？应该采取那种统计分析的手段呢？

简单晃

就是计算MTBF