电子器件的失效分析

一个白痴

随着电子信息技术的飞速发展，电子设备在各
个领域的应用日益广泛，对电子产品提出了更高的
要求．长寿命、高可靠性电子器件，一方面取决于材
料的化学成分和宏观缺陷的影响，另一方面与材料
的微观组织、结构分布和器件的失效机理有着密切
的关系．因此，人们开始注意电子材料与器件的微观
结构和失效机理方面的联系［１］，这对提高器件的成
品率、可靠性和促进电子技术的高速发展，都具有十
分重要的意义．
即使是在相同工艺条件下，制造器件的成品率
往往也相差很大，从而促使人们对材料质量作进一
步深入地研究，发现影响器件性能比较严重的因素
还有其他一些内在质量，如氧、碳、重金属杂质，电导
率的微区不均匀性，微缺陷，热氧化层错，杂质补偿
度等［２］．因此，积极开展材料与器件性能关系的研究
工作，探索各种晶体缺陷的形成机理、分布特点、存
在形态、相互作用及其在器件工艺过程中的变化规
律，分析它们对器件性能的影响，是一个重要的研究
课题．
本文根据实践中遇到的电子器件的失效现象，
对失效的主要形式进行了分类．并以其中一个电子
器件的失效分析为例，对电子器件的失效原因进行
了探讨．

莫邪

看不到东西呀！

Riva

学习了，不错，谢谢

飘雪

多谢楼主分享~~