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如何进行电容的IQC检验

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1#
发表于 2011-11-3 03:09:54 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式
想咨询一下,在做IQC时,发现阻容偏低,经销商给的说法是,加温容值就是恢复正常,我通过查找相关资料,也认可这种说法,但有以下几点不明白:
1、容值低的,通过加温能够恢复正常,那如果容值在正常的上限的话,岂不是一过PCBA,容值就超差了。

2、每次做IQC都发现容值超差的话,不能都通过温度试验来证实其是否正常吧,但如果不验证的话,肯定又不敢把这异常的电容放过。(内部检验时,规定一个比标称值更宽松的精度范围?)

由于我们是小批量多品种,这也决定了我们不可能直接要求原厂家进行相关测试,请问大家遇到过这种情况吗,是如何控制的。
5#
发表于 2011-11-3 03:10:18 | 只看该作者
你说的产品时CL还是CBB的,不过通过你的描述加温影响这么大的估计是CL的产品,那叫你加温时对的。通常容量是要求在一定温度下检测的。通常我写是21°。
4#
发表于 2011-11-3 03:10:12 | 只看该作者
你不能改变测试条件来测试
规格书上有明确的测试条件规定
就按那个来
温度变化造成容值变化是正常现象
如果这个变动范围不能被接受
那就寻找温度稳定性更好的电容
不同介质的电容温度稳定性是不一样的
另外介质的潮湿度影响也很大
比如阴雨天湿度大的时候和大晴天会不同
可以烘烤后放在测试环境里恢复一定时间再进行测试
当然这样会造成检验周期加长到让你没办法检验
所以还得靠自己公司做一定的技术把握
结合电容的实际使用情况
对检验的结果进行充分评价
然后再决定放行不放行
3#
 楼主| 发表于 2011-11-3 03:10:06 | 只看该作者
再顶一下 ,看有无高人回复
2#
 楼主| 发表于 2011-11-3 03:10:00 | 只看该作者
顶一下,期待高人来解答
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