我们公司新进了两台自动测Ct的设备,两台设备有一套master (零master,ok master, ng master),精度为0.001mm
问题：
1. 同一个master在两台设备上反复测量时,差异大
以 ok master （读数为17μ）为例
A设备测量10次 都是17即均合格；B设备测量10次 读数都不稳定,16~18都有。
2. 客户对Ct的要求非常高,公差只有4μ，稍微差1μ就会出现不合格。
3.因为同一个master在两台设备反复测量时，差异太大，设备无法验收使用.
同时设备入库的时候,并未带有master的允许公差为多少的说明书.
我们分别用了GRR和 kappa方式进行了分析，感觉这两种方式都无法验证.
我们想要的结果是两台设备对同一个master进行验证的时候,一致性较好.
应该用什么方法来验收设备呢？急求 |
发表于 2011-10-26 22:41:45
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