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spc知识讨论

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1#
发表于 2011-10-6 14:40:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
想向他家请教SPC相关知识:

1,移动极差控制图中控制线是否可以比 Spec 更低,
2, 如何解释用控制图之前过程需统计受控。


谢谢大家了~~~~~~~~~
2#
 楼主| 发表于 2011-10-6 14:40:17 | 只看该作者
希望大家给予指导~~~~~~~~~
谢谢
3#
发表于 2011-10-6 14:40:23 | 只看该作者
统计过程受控,出来的控制线才是有效地,并已排除了特殊原因。
4#
发表于 2011-10-6 14:40:29 | 只看该作者
如果自信可以受控,应该可以压缩控制线,但可能会造成误判。
5#
 楼主| 发表于 2011-10-6 14:40:35 | 只看该作者
分析用的控制图,是不是就是为了判断过程是否处于受控状态???
6#
发表于 2011-10-6 14:40:41 | 只看该作者
控制图就是用于直观反映过程是否受控。
7#
发表于 2011-10-6 14:40:48 | 只看该作者
分析用控制图的目的是为了建立控制线,从而用于控制,而建立用于控制的控制线必须是在过程受控状态下的控制线,如使用过程不受控状态下建立的控制线进行后续的控制,会导致在使用时判断失误(即检出力下降),即有异常原因而不能被发现。
其实在分析控制图阶段本身就是一个改进的过程。要将我们的过程改进到在受控状态(即减少过程的波动)
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