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标题: spc知识讨论 [打印本页]

作者: 老鹰 时间: 2011-10-6 14:40
标题: spc知识讨论
想向他家请教SPC相关知识：

1，移动极差控制图中控制线是否可以比 Spec 更低，
2，如何解释用控制图之前过程需统计受控。

谢谢大家了~~~~~~~~~

作者: 老鹰 时间: 2011-10-6 14:40
希望大家给予指导~~~~~~~~~
谢谢

作者: 月之逢 时间: 2011-10-6 14:40
统计过程受控，出来的控制线才是有效地，并已排除了特殊原因。

作者: 月之逢 时间: 2011-10-6 14:40
如果自信可以受控，应该可以压缩控制线，但可能会造成误判。

作者: 老鹰 时间: 2011-10-6 14:40
分析用的控制图，是不是就是为了判断过程是否处于受控状态？？？

作者: 月之逢 时间: 2011-10-6 14:40
控制图就是用于直观反映过程是否受控。

作者: 感觉 时间: 2011-10-6 14:40
分析用控制图的目的是为了建立控制线，从而用于控制，而建立用于控制的控制线必须是在过程受控状态下的控制线，如使用过程不受控状态下建立的控制线进行后续的控制，会导致在使用时判断失误（即检出力下降），即有异常原因而不能被发现。
其实在分析控制图阶段本身就是一个改进的过程。要将我们的过程改进到在受控状态（即减少过程的波动）

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