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标题: 请教焦平面或多元芯片可靠性的测试方法 [打印本页]

作者: 霍华德 时间: 2012-5-18 00:07
标题: 请教焦平面或多元芯片可靠性的测试方法
如何测试现在流行的焦平面（比如相机内焦平面）器件的可靠度。

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