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标题: 加寿命模型讨论,请大侠发表高见. [打印本页]

作者: 雅各布 时间: 2012-5-18 00:01
标题: 加寿命模型讨论,请大侠发表高见.
我最近看了一本可靠性方面的书,书中只是讲到半导体器加寿寿命常用的两个模型.
阿列尼乌斯模型和爱伦模型.
那笔记本的也是用这两个模型吗???
我把上面两个模型公式写出来.
阿列尼乌斯模型
ln L=A+E/(R.T)
L为寿命,A为常数,E为激活能(Kcal/mol),T为热力学温度(K),R为气体常数.(1.986*10的3次方Kcal/mol.deg)
爱伦模型:
ln L=A-aln S
L为寿命,A和A为常数,S为应力.
请大侠们补充完整,例题我就不写啦.

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