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标题: 如何进行电容的IQC检验 [打印本页]

作者: 蓝黑军团 时间: 2011-11-3 03:09
标题: 如何进行电容的IQC检验
想咨询一下，在做IQC时，发现阻容偏低，经销商给的说法是，加温容值就是恢复正常，我通过查找相关资料，也认可这种说法，但有以下几点不明白：
1、容值低的，通过加温能够恢复正常，那如果容值在正常的上限的话，岂不是一过PCBA，容值就超差了。

2、每次做IQC都发现容值超差的话，不能都通过温度试验来证实其是否正常吧，但如果不验证的话，肯定又不敢把这异常的电容放过。（内部检验时，规定一个比标称值更宽松的精度范围？）

由于我们是小批量多品种，这也决定了我们不可能直接要求原厂家进行相关测试，请问大家遇到过这种情况吗，是如何控制的。

作者: 蓝黑军团 时间: 2011-11-3 03:10
顶一下，期待高人来解答

作者: 蓝黑军团 时间: 2011-11-3 03:10
再顶一下，看有无高人回复

作者: 何宝荣 时间: 2011-11-3 03:10
你不能改变测试条件来测试
规格书上有明确的测试条件规定
就按那个来
温度变化造成容值变化是正常现象
如果这个变动范围不能被接受
那就寻找温度稳定性更好的电容
不同介质的电容温度稳定性是不一样的
另外介质的潮湿度影响也很大
比如阴雨天湿度大的时候和大晴天会不同
可以烘烤后放在测试环境里恢复一定时间再进行测试
当然这样会造成检验周期加长到让你没办法检验
所以还得靠自己公司做一定的技术把握
结合电容的实际使用情况
对检验的结果进行充分评价
然后再决定放行不放行

作者: best 时间: 2011-11-3 03:10
你说的产品时CL还是CBB的，不过通过你的描述加温影响这么大的估计是CL的产品，那叫你加温时对的。通常容量是要求在一定温度下检测的。通常我写是21°。

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